극소량의 유해 중금속도 비파괴적으로 쉽게 분석할 수 있는 첨단 X선 형광분석기가 국내 기술진에 의해 개발됐다.

과학기술부는 원광대학교 익산방사선영상과학연구소(소장 윤권하 교수)가 국제 환경 협약과 규제 기준에 맞춰 납 등 6가지 중금속 함유량을 분석할 수 있는 X선 형광분석기 개발에 성공했다고 7일 밝혔다.

연구팀이 개발한 분석기는 나노 수준의 박막을 수십층으로 쌓아 X선을 반사시키는 거울을 만들어 단색광 X선을 생성한 뒤, 이 X선과 측정대상 물질의 반응에서 나오는 원소 정보를 0.1ppm 이하의 초고감도로 분석하는 X선 다층박막거울(Multi-Layer Mirror)에 기반을 두고 있다.

국내외에서 특허출원된 이 기술은 최근 미국에서 열린 덴버 X-선 콘퍼런스에서도 소개됐다.

과기부는 이번 기술개발로 중금속 함유량과 토양성분 분석, 농수산물의 중금속 오염분석, 도금 및 필름의 정밀 두께측정, 초미세 원소의 극미량변화 관찰기반기술을 확보했다고 덧붙였다.

과기부는 또 전량 수입에 의존하는 국내 관련기기의 수입(연간 200억원 수준)을 대체하는 효과를 거두는 한편 연 1조원 이상 규모의 세계 X선 분석기기 시장에 진입할 수 있는 발판을 마련했다고 평가했다.